SEM-SERVICES

ภาพถ่ายกำลังขยายสูง กับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป
แบบส่องกราด SEM


บทความนี้ Do SEM ขอขอบคุณคุณกอล์ฟ Mr.Golf (สิงห์เฒ่าซ่อมเซ็ม)  มากๆค่ะ
manatsanan2007@hotmail.com 

ถ้าผมเปรียบเทียบรุ่นของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯให้คล้ายกับรุ่นรถยนต์
เราสามารถเปรียบเทียบรุ่นของกล้องตามประสิทธภาพของกล้องให้เหมือน
รุ่นของรถได้ดังนี้

1.กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM(W Filament) =คล้ายรถ Vios/Jazz
Resolution กล้องแบบนี้จะอยู่ที่ 3 nm.(นาโนเมตร) ที่ 30 kV

2.กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM(LaB6 Filament) =คล้ายรถ Altis/Civic
Resolution กล้องแบบนี้จะอยู่ที่ 3 nm.(นาโนเมตร) ที่ 30 kV แต่ที่ low kV
ภาพจะชัดกว่าแบบ W Filament ค่อนข้างมาก ที่0.5-15kV จะชัดกว่ามาก

3.กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ FE-SEM(W Filament) =คล้ายรถ Camry/Accord
Resolution กล้องแบบนี้จะอยู่ที่ 0.8-1.5 nm.(นาโนเมตร) ที่ 15 kV
กล้องแบบนี้ดีสุด แพงสุด และที่สำคัญให้บริการน้อยสุดในเมืองไทย
ในเมื่อกล้องแบบ FE-SEM ดีสุดแต่มีให้บริการและรับบริการ ไม่ถึง 1 %
จากเครื่องทั้งหมดในเมืองไทย ทำให้ไม่เพียงพอต่อความต้องการ

บทความนี้ผมจะใช้กล้องกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM(W Filament)
ซึ่งเป็นรุ่นต่ำสุด มาลองถ่ายภาพที่กำลังขยายสูง เพื่อแก้ขัด กับการขาด
แคลนของ FE-SEM กัน มาลองดูกันครับ
(ความคมชัดของภาพในบทความลงเป็นไฟล์ JPEG. แต่ต้นฉบับเป็น BMP.)

ตามภาพเป็น Latex (ภาพนี้ใช้ 20kV) 1 แสนเท่า
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20 kV (กิโลโวลท์)    
กำลังขยาย x 100k เท่า สเกล 0.1 um (ไมครอน ) หรือ 0.0001 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI ใช้ Spot size 1 และ Aperture #1
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

* ปกติเครื่อง SEM/EPMA ถ่าย high resolution จะต้องใช้ตัวอย่าง Au particle (Gold) 
   ใช้ Acc. 30 kV   Aperture #1
** ปกติเครื่อง FE-SEM ถ่าย high resolution จะต้องใช้ตัวอย่าง Au particle (Gold) 
   ใช้ Acc. 15 kV และ 1 kV (ส่วนตัวชอบถ่าย 0.5 kV 1แสนเท่า) Aperture #1

SEM High resolution check


ตามภาพเป็น Latex (ภาพนี้ใช้ 30kV)
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 30kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 75k เท่า สเกล 0.1 um (ไมครอน ) หรือ 0.0001 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI ใช้ Spot size 1 และ Aperture #1
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com


ตามภาพเป็น Latex  (ภาพนี้ใช้ 20kV)
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 75k เท่า สเกล 0.1 um (ไมครอน ) หรือ 0.0001 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI ใช้ Spot size 1 และ Aperture #2
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com



หมายเหตุ : ตัวอย่าง Latex ปกติจะถ่ายกำลังขยายไม่เกิน 35k (35,000) เท่า
                  การถ่ายภาพกำลังขยายสูงบางตัวอย่างขึ้นกำลังขยายสูงได้ บางตัวอย่าง
                  ใช้ Condition ตาม 2 ภาพบนก็ไม่สามารถจะถ่ายได้ (W Filament)
                  ชัดเท่ากับภาพสองภาพด้านบนได้

ตามภาพเป็น Latex  (ภาพนี้ใช้ 30kV)
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 30kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 50k เท่า สเกล 0.5 um (ไมครอน ) หรือ 0.0005 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI ใช้ Spot size 1 และ Aperture #2
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com



ตามภาพเป็น Latex  (ภาพนี้ใช้ 20kV)
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 35k เท่า สเกล 0.5 um (ไมครอน ) หรือ 0.0005 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI ใช้ Spot size 1 และ Aperture #2
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com



หมายเหตุ : การใช้ Aperture #1 จะชัดกว่า #2

ตามภาพเป็น Latex  (ภาพนี้ใช้ 20kV)
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 20k เท่า สเกล 1um (ไมครอน ) หรือ 0.001 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI ใช้ Spot size 5 และ Aperture #2
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com







ตามภาพเป็น Latex  (ภาพนี้ใช้ 20kV)

ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 20k เท่า สเกล 1um (ไมครอน ) หรือ 0.001 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI ใช้ Spot size 5 และ Aperture #2
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com



สำหรับ SEM Resolution check ส่วนใหญ่จะใช้ Gold particle สำหรับการเช็ค
และจะเช็คที่กำลังขยาย 100k เท่า ถ้า FE-SEM ก็จะเช็คที่ 100-250k เท่าครับ

ครับผลของการถ่ายภาพออกมา ก็พอแก้ขัดได้ดีพอควร กับการที่ FE-SEM ไม่
เพียงพอ แต่การถ่ายภาพแบบนี้ใช่ว่าทุกเครื่องจะสามารถถ่ายได้ เครื่องดีแต่คน
ถ่ายตั้งค่าในการถ่ายไม่ดี ก็ไม่สามารถถ่ายภาพออกมาได้ตามตัวอย่างภาพด้าน
บนได้ ขึ้นอยู่กับคนขับ(คนถ่าย)แล้วละครับ ที่จะต้องใช้ฝีมือในการถ่าย แต่ถ้า
เป็น FE-SEM บอกได้เลยครับถ่ายง่ายกว่า SEM ถึง 10เท่าเลยละครับ

ติดตามบทความต่อๆไปนะครับ จะนำเทคนิคถ่ายภาพให้ได้สวย และชัด และ
สามารถขึ้นกำลังขยายได้สูง ติดตามกันนะครับ

น้อมรับทุกคำชี้แนะครับ Mr.Golf (สิงห์เฒ่าซ่อมเซ็ม) manatsanan2007@hotmail.com

หรือมาพบปะพูดคุยได้ตามประสาได้ที่ Big C จ.สุรินทร์ (แอร์ฟรี 555 จริงๆนะครับ)
หรือมาติดตามเป็นเพื่อนผ่านโซเชียลเน็ตเวิร์ค แต่ไม่ค่อยได้อัพและแชร์ มัวแต่ทำนาทำไร่
อยู่ครับ ตามลิงค์ด้านล่างเลยครับ
http://www.facebook.com/JeolOxfordInstruments?ref=hl 

ขอขอบคุณ เจ้าของตัวอย่าง Latex Standard : Mr.David Lee (Do SEM)

***************************************************
Resolution,resolution check,SEM resolution check,ภาพกำลังขยายสูง,
ภาพSEMกำลังขยายสูง
บทความน่าสนใจอื่นๆ

 

ที่มา : http://www.dosem24hr.com/index.php

สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์

Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด

 

 

edit @ 19 Apr 2013 11:06:19 by จุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป

จำหน่าย_ขาย และบริการ SEM (Scanning Electron Microscope)และ EDS (Energy Dispersive X-ray) ,SemAfore, SPUTTER Coater มือสอง สภาพดีมาก พร้อมติดตั้ง และสอนใช้งาน, SEM กำลังขยายสูง สามารถดู SEI,BEI,COMPO,TOPO โหมด EDS Full Option พร้อมโปรแกรม SemAfore ดึงภาพดิจิตอล,วัดขนาด และเครื่องฉาบเคลือบทอง Sputter Coater จำหน่ายทั้งชุด

SEM for sale1
SEM for sale1

** รายละเอียดไฟล์ PDF. เพิ่มเติมคลิก Jeol Scanning electron microscope JSM 5400.pdf และ For sale sem eds semafore sputter.pdf

รายละเอียด :

SEM (Scanning Electron Microscope) JEOL

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด
Scanning electron microscope, SEM

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SCANNING ELECTRON MICROSCOPE,SEM
ภาพที่ได้จากเครื่อง SEM 1.ภาพแบบ SEI (Secondary electron image)

SEI Image
SEI Image
Latex SEI Image
Latex SEI Image

2.ภาพแบบ BEI (Backscattered electron image) 2.1 BEI ภาพแบบ COMPO (compositional mode) แยกความแตกต่างตาม atomic number, Z

PbSn BEI COMPO  Image  2
PbSn BEI COMPO Image 2

2.2 BEI ภาพแบบ TOPO (topographic) ภาพแบบมีมิติ,3มิติ

PbSn BEI TOPO  Image 2
PbSn BEI TOPO Image 2

2.3 BEI ภาพแบบ SHADOW (COMPO/TOPO+SHADOW)

PbSn BEI COMPO +Shadows Image  2
PbSn BEI COMPO +Shadows Image 2
PbSn BEI TOPO +Shadows Image  2
PbSn BEI TOPO +Shadows Image 2

SEM Mode ที่บริการ

1.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode)
2.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode)
3.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ
4.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ

* LV SEM หรือ Low vacuum เป็นศัพท์เทคนิคการใช้SEM ในโหมดสุญญากาศต่ำของ SEM ยี่ห้อ JEOL ส่วนศัพท์เทคนิค ของ SEMยี่ห้ออื่นๆจะมีศัพท์เทคนิคเช่น VP SEM, E SEM, EP SEM, N SEM, WET SEM การทำงานของเครื่องSEM จะเหมือนๆกัน สามารถดูตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้าได้ ตัวอย่างมีความชื้นอยู่บ้างไม่มาก และเป็นการไม่ทำลายตัวอย่าง

- Filament แบบทังสเตน (W) K-Type

- กำลังขยาย X15 - X200,000 เท่า

- SEI Image resolution 3.5 nm.

- BEI Image resolution 4.5 nm. TOPO Mode, COMPO Mode,

- High Vacuum mode

- Low Vacuum mode (BEI)ไม่ต้อง coating ตัวอย่างก่อนเข้า SEM

EDS (Energy Dispersive X-Ray) OXFORD

- Detector Resolution 133 ev.

- วิเคราะห์ได้ตั้งแต่ B(โบรอน) - U(ยูเรเนียม)

- Detection limit 0.1 % สามารถวิเคราะห์ %ธาตุได้ตังแต่ 0.1%ขึ้นไป

- วิเคราะห์เชิงคุณภาพ Qualitative

- วิเคราะห์เชิงปริมาณ Quantitative

- Mapping และ Line scan แบบ Speed map

- Quant Mapping และQuant Line scan แบบ Quant

- Phase measurement

- Area Measurement

- Cameo

- Beam Track

- Auto Beam

EDS Services วิเคราะห์ะธาตุ เชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ (Qualitative and Quantitative analysis) ตั้งแต่ธาตุ Bโบรอน- U ยูเรเนียม, Detection limit 0.1%

การวิเคราะห์เชิงปริมาณ Quantitative การวิเคราะเชิงปริมาณ Quantitative Analysis หาปริมาณ%ธาตุในตัวอย่าง, Element% ,Atomic%

sem quant
sem quant หาปริมาณ element%, atomic %
sem quant 1sp
Qualitative analysis
sem quant
sem quant , Quantitative analysis
sem quant , Quantitative analysis
sem quant , Quantitative analysis
sem quant
sem quant , Quantitative analysis แบบกราฟแท่ง
sem quant 5
sem quant , Quantitative analysis

การวิเคราะเชิงคุณภาพ Qualitative Analysis
สามารถวิเคราะห์ได้ตั้งแต่ธาตุ B ถึง U ตามตารางธาตุ Resolution 133 ev.

Identify EDS peak
Identify EDS peak
spectrum copy
X-ray spectrum copy
spectrum printing
spectrum printing
EDX X-ray spectrum
EDS X-ray spectrum, Qualitative analysis
spectrum zoom
spectrum zooming

วิเคราะห์แบบ Mapping ธรรมดา(Speed mapping)

วิเคราะห์แบบ Mapping (Speed maping) Speed maping ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง

Mix Mapping

speed mapping
speed mapping

Speed mapping

speed map 2
speed map 2

Mix Mapping

speed mapping
speed mapping

การวิเคราะห์ธาตุ Line scan (speed Linescan)

การวิเคราะห์ธาตุ Line scan (speed linescan) Speed linescan ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง

linescan mix
linescan mix รวม Linescan กับภาพ

Mix Linescan

linescan mix
linescan mix , Element mix
linescan mix
linescan mix 2 element with Autobeam image
linescan mix4
linescan mix, Line บนภาพ Autobeam

Speed Linescan

linescan1
ลากเส้นกำหนดตำแหน่งทำ linescan

Speed Linescan

linescan 4 ธาตุ
Speed line scan แกน Yจะบอกเป็น cts.(ไม่เหมือนQuant linescan บอกเป็น %element.)

Quant Mapping ใช้เวลาทำ 4-6 ชม. /ตำแหน่ง

* Mapping แบบ Speed map ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง

** ติดต่อเจ้าหน้าที่ขอรายละเอียดเพิ่มเติมกรณีทำ Quant Mapping ค๊ะ

Quant mapping 1
Quant mapping 1
Quant mapping2
Quant mapping ระดับสีจะบอกถึง %element

Quant Line Scan

Quant Line Scan

 

Quant line scan 1
Quant line scan 1
Quant line scan 2
Quant line scan แกน Yจะบอกเป็น %element (ไม่เหมือนSpeed บอกเป็น cts.)

Quant Line Scan แบบ Mix

Quant line scan mix1
Quant line scan mix1
Quant line scan mix2
Quant line scan mix2

รูป Auto Beam แบบ 1 Point และ Area analysis

auto beam1
auto beam แบบ Area
auto beam
auto beam แบบ Area 2

Auto Beam แบบกำหนดจุด 1 จุด

point analysis
point analysis / Autobeam 1 point

Muti point Analysis

Muti point Analysis (เชิงปริมาณ)

Auto beam track
Auto beam track, multi point, 6 point
Auto beam track7 results
Auto beam track results เชิงปริมาณ
sem quant
sem quant เชิงปริมาณ, %element

Muti point Analysis (เชิงคุณภาพ)

Muti point Analysis (เชิงคุณภาพ)

Auto beam track1

X-Ray analysis
X-Ray analysis1
Auto beam track3
Auto beam track spectrum 6 point

Muti point Analysis (เชิงปริมาณแบบหาค่าเฉลี่ย จากทุกจุดที่ยิง)

Auto beam track6 aver
Auto beam track แบบหาค่าเฉลี่ย 6 จุด

Area Measurement

area measurement
area measurement วัดหาพื้นที่ของภาพออกมาเป็น %

CAMEO Analysis

CAMEO Analysis
CAMEO Analysis ,สีแดงย่าน kev ต่ำ ส่วนสีฟ้า kevสูง
cameo
cameo

Phase Measurement

Phase Measurement
Phase Measurement วัดเพสของตัวอย่างออกมาเป็น %

SemAfore Ver 5.0 JEOL

- ดึงภาพดิจิตอลไฟล์จากเครื่อง SEM เป็นไฟล์ .BMP, JPEG, PNG, TIFF และอื่นๆได้

- สามารถวัดขนาดตัวอย่างได้

- สามารถวัดพื้นที่ตัวอย่างได้

- สามารถวัดมุมตัวอย่างได้

- สามารถใส่Text บนตัวอย่างได้

- สามารถนับจำนวนตัวอย่างได้

SPUTTER COATER Fison VG Microtech

- สำหรับฉาบเคลือบทองบนผิวตัวอย่าง เพื่อให้นำไฟฟ้า ก่อนเข้าเครื่อง SEM ใช้อาร์กอนช่วยในการฉาบเฉลือบให้สมบูรณ์ยิ่งขึ้น

- สามารถลดความชื้นตัวอย่างที่มีความชื้นสูง ก่อนนำเข้า SEMได้

อื่นๆ

- พร้อมติดตั้ง ทั่วประเทศ โดยช่างชำนาญการที่มากประสบการณ์ ผ่านงานด้าน SEM/EDS ไม่ต่ำกว่า 18 ปี

- อบรมการใช้เครื่อง On site ให้ 3 วัน

- PM/ Column cleaning ให้ฟรี 1 ครั้ง ภายในระยะเวลา 1 ปี

สนใจสอบถามราคาและรายละเอียดเพิ่มเติม

** รายละเอียดเพิ่มเติมคลิก

www.dosem24hr.com

ห้องปฏิบัติการ Do SEM พร้อมให้บริการ SEM, EDS, EDX (EDAX), SemAfore, Sputter Coater

 

Scanning electron microscope, SEM

บริการกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, SEM
ภาพที่ได้จากเครื่อง SEM
1.ภาพแบบ SEI (Secondary electron image)

SEI Image
SEI Image
Latex SEI Image
Latex SEI Image

2.ภาพแบบ BEI (Backscattered electron image)
2.1 BEI ภาพแบบ COMPO (compositional mode) แยกความแตกต่างตาม atomic number, Z

PbSn BEI COMPO  Image  2
PbSn BEI COMPO Image 2

2.2 BEI ภาพแบบ TOPO (topographic) ภาพแบบมีมิติ,3มิติ

PbSn BEI TOPO  Image 2
PbSn BEI TOPO Image 2

2.3 BEI ภาพแบบ SHADOW (COMPO/TOPO+SHADOW)

PbSn BEI COMPO +Shadows Image  2
PbSn BEI COMPO +Shadows Image 2
PbSn BEI TOPO +Shadows Image  2
PbSn BEI TOPO +Shadows Image 2

SEM Mode ที่บริการ
1.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode)
2.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode)
3.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ
4.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ

* LV SEM หรือ Low vacuum เป็นศัพท์เทคนิคการใช้SEM ในโหมดสุญญากาศต่ำของ SEM ยี่ห้อ JEOL ส่วนศัพท์เทคนิคของ SEMยี่ห้ออื่นๆจะมีศัพท์เทคนิคเช่น VP SEM, E SEM, EP SEM, N SEM, WET SEM การทำงานของเครื่องSEM จะเหมือนๆกัน สามารถดูตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้าได้ ตัวอย่างมีความชื้นอยู่บ้างไม่มาก และเป็นการไม่ทำลายตัวอย่าง

บริการเครื่องวิเคราะห์ธาตุ Energy Dispersive X-Ray Spectrometer, EDS, EDX
สามารถวิเคราะห์เชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ ทำ Mapping, line scan, Auto beam, Phase measurement,Area Measurement, Cameo, Point Analysis, Beam Track

** Mapping และLine scan สามารถวิเคราะห์ได้ทั้งแบบ Speed (Cps) และQuant(Element%)

Qualitative Analysis
Qualitative Analysis
Quantitative Analysis
Quantitative Analysis
Quant mapping
Quant mapping
speed map
speed map

บริการเครื่องบันทึกภาพดิจิตอลไฟล์ BMP,TIFF,JPEG,PNG, ด้วยโปรแกรม SemAfore 5.0 ยี่ห้อ JEOL
ภาพ SEM ดิจิตอลไฟล์ต้นฉบับ, วัดสเกลตัวอย่าง, วัดมุม, นับจำนวน

SEM Image measurement
SEM Image measurement

บริการเครื่องฉาบเคลือบทอง 99.99% ด้วยเครื่อง SPUTTER COATER
ฉาบเคลือบตัวอย่างที่จะดู SEM ในโหมด HV SEM เพื่อให้นำไฟฟ้าด้วยทองคำแท้บริสุทธิ์ 99.99%

Sputter Coater
Sputter Coater

รายละเอียดทั่วไปการให้บริการของห้องปฏิบัติการ SEM /EDS /EDX (Do SEM )
- การถ่ายภาพพื้นผิวชิ้นงานศึกษา ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด SEM
- ใช้SEM ในการศึกษาสัณฐาน และรายละเอียดลักษณะพื้นผิวของตัวอย่าง
- ใช้SEM ในการศึกษาลักษณะพื้นผิวด้านนอกของเนื้อเยื่อและเซลล์
- ใช้SEM ในการศึกษาตัวอย่างด้านชีววิทยา, พยาธิวิทยา, เทคโนโยลีชีวภาพ
- ใช้SEM ในการศึกษาลักษณะพื้นผิวด้านนอกของหน้าตัดของโลหะและวัสดุต่างๆ
- ใช้SEM ในการศึกษาตัวอย่างร่วมการวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX
- การใช้ SEM,EDS ตรวจสอบคุณสมบัติของวัสดุ
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์รอยบกพร่องและคราบสกปรกของวัสดุ
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์วัสดุที่นำมาเป็นบรรจุภัณฑ์ เช่นกระป่อง กล่อง ฝาจีบ ขวด
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์เขม่าปืน, คราบเขม่าดินปืน
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์ความเสียหายและการกัดกร่อนของวัสดุ
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์วัสดุทางทันต์แพทย์, วัสดุทำฟัน จัดฟัน วิเคราะห์วัสดุทางการแพทย์
- Failure analysis การวิเคราะห์ความเสียหายวัสดุ ความเสียหายวัสดุอุตสาหกรรม ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- วิเคราะห์ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ IC Transistor Relay Semiconductor เซมิคอนดัคเตอร์ ชิ้นส่วนไฟฟ้าด้วย SEM,EDS
- ทดสอบวิเคราะห์ชิ้นส่วนยานยนต์ อะไหล่ยานยนต์ ชิ้นส่วนเครื่องจักรกล ชิ้นส่วนงานรถไฟ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- ทดสอบวิเคราะห์วัสดุก่อสร้าง ปูนซีเมนต์ อิฐมวลเบา อิฐต่างๆ หิน ดิน กรวด แร่ธาตุต่างๆ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การวิเคราะห์องค์ประกอบเคมีของสารปนเปื้อนบนชิ้นงาน วัสดุ(contamination) ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ เหล็กหล่อ เหล็กกล้า รางรถไฟ ล้อแมกซ์ ผ้าเบรกด้วยเครื่องSEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ตัวอย่างลักษณะเป็นผงต่างๆ ผงแป้งต่างๆ ซิงค์ออกไซต์ Zinc oxide ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ Ceramics เซรามิคส์ เซรามิกส์ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ polymer พอลิเมอร์ โพลิเมอร์ ยาง พลาสติก เม็ดยาง ยางพารา ยางรถ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์พระหล่อโบราณ พระเครื่อง พระเครื่องผง พระเครื่องเนื้อโลหะต่างๆ วัตถุโบราณ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์สิ่งทอ เส้นใย ผ้า ผ้าไหม ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ถ่ายภาพ PCB ลายปริ้น บอร์ดอิเล็กทรอนิกส์ คอมพิวเตอร์ ไฟเบอร์ Fiber ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ยา เคมีภัณฑ์ ด้วยเครื่อง SEM,EDS

บริการห้องปฏิบัติการ Do SEM
บริการห้องปฏิบัติการ Do SEM

SEM +EDS: คิดค่าบริการใช้เครื่องเป็นชั่วโมง
เศษของชั่วโมง บวกเพิ่มอีก 1 ชั่วโมง ความสามารถ 2-4 ตัวอย่าง/ชั่วโมง
ตัวอย่างควรเตรียมขนาดไม่ควรเกิน 3x3 ซม. แนะนำเตรียมให้เล็กที่สุดที่เตรียมได้ ยิ่งเล็กยิ่งหาตำแหน่งที่ต้องการศึกษาง่ายขึ้นประหยัดเวลาในการหาตำแหน่งและการใช้ชั่วโมง SEM

(สามารถเอาตัวอย่างเข้าได้ขนาดใหญ่สูงสุดไม่เกิน 3 นิ้วความสูงไม่ควรเกิน 1นิ้ว)

ตัวอย่างที่จะนำมาศึกษาถ้ามีขนาดใหญ่เกิน และไม่สามารถนำเข้าเครื่อง SEMได้ ทางเราแนะนำให้เตรียมมาให้ขนาดพอดี เนื่องจาก Do SEM ไม่มี workshop ที่จะเตรียมชิ้นงานให้ได้ตัวอย่างที่ต้องผ่านขบวนการเตรียม อื่นๆที่จะต้องทำมาก่อนเข้ารับบริการ Do SEM เช่น การดองตัวอย่าง ขัดผิว ผ่านเครื่องCPD หรือการตัดชิ้นงานใหญ่ๆและอื่นๆ,เพราะทางDo SEM จะให้บริการเฉพาะนำตัวอย่าง ของท่านที่จะนำมาศึกษา ติดบนStub และฉาบเคลือบก่อนเข้า SEM เท่านั้นค่ะ

* หมายเหตุ ค่าบริการนี้เฉพาะชั่วโมงการใช้เครื่อง SEMและEDS เท่านั้น ไม่รวมภาพถ่ายดิจิตอลไฟล์,ภาพ Thermal printer,ผลและข้อมูลจาก EDS,ฉาบเคลือบทอง,ค่าบริการอื่นๆที่มี ในระหว่างให้บริการ
** รับบริการไม่ถึง 1ชั่วโมง นับเป็น1ชั่วโมง
*** เศษของชั่วโมง จะนับเพิ่มอีก 1ชั่วโมง

http://www.dosem24hr.com/index.php ตลอด 24 ชั่วโมงค่ะ

edit @ 2 Sep 2012 20:35:05 by จุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป

edit @ 2 Sep 2012 20:37:50 by จุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป